Asegurar la calidad

Obtenga la prueba de escaneo determinista de la más alta calidad con el costo de prueba de fabricación más bajo, utilizando compresión patentada en chip para reducir el volumen de datos de prueba y reducir el tiempo de prueba.

Reduzca el tiempo de desarrollo del diseño para la capacidad de prueba (DFT) y el costo de las pruebas de fabricación al desacoplar los requisitos de DFT a nivel de centro y de chip.

Supere las limitaciones de calidad de las metodologías tradicionales de DFT. Apunte los defectos en los IC en los niveles de transistor e interconexión con nuestra generación automática de patrones de prueba (ATPG) de grado automotriz.

Logre la automatización integral y la integración de pruebas, reparación, depuración y caracterización de memorias integradas.

Satisfacer los requisitos de los IC para el mercado de electrónica automotriz de rápido crecimiento y satisfacer las demandas de los nuevos mercados y tecnologías.

Simule defectos a nivel de transistor para circuitos digitales analógicos, de señal mixta y sin escaneo. Cumpla con estándares de calidad como ISO26262 con evaluación de cobertura automatizada.

Lee Harrison, director de marketing de productos de Tessent, habla sobre los autobuses Streaming Scan Network (SSN) y la próxima generación de tecnología de diseño para pruebas en esta entrevista con Electronics Weekly.

Conozca las tendencias de seguridad y seguridad cibernética automotriz y el futuro de la seguridad de la tecnología de movilidad. Descubra cómo Siemens EDA representa una opción inteligente para las empresas automotrices dentro del ecosystem.

Garantice la calidad, mejore la seguridad, optimice el rendimiento y aumente la confiabilidad mediante la incorporación de módulos pequeños directamente en su sistema en chip (SoC), lo que permite una observación no intrusiva de lo que está sucediendo en su diseño.

Lea cómo un número creciente de normas y regulaciones dentro del ecosystem automotriz prometen ahorrar costos de desarrollo al evitar ataques cibernéticos.