Productos Tessent

Tessent AnalogTest reduce el desarrollo y la verificación de patrones de prueba analógicos de meses de ingeniería a horas de ingeniería. Es la manera más efectiva de maximizar la cobertura de defectos mientras se reduce el costo de las pruebas.

Tessent In-System Test proporciona el hardware integrado y el software necesario para permitir la aplicación de patrones de prueba deterministas de alta calidad al tiempo que reduce el tiempo de prueba en comparación con el BIST lógico tradicional.

Entregue la prueba de escaneo determinista de la más alta calidad con el costo de prueba de fabricación más bajo, utilizando compresión patentada en chip para reducir el volumen de datos de prueba y reducir el tiempo de prueba.

Automatice la generación e inserción de hardware compatible con IEEE 1838 y defina la arquitectura de acceso de prueba IEEE para circuitos integrados apilados 3D.

Reduzca el tiempo de desarrollo de DFT y el costo de pruebas de fabricación al desacoplar los requisitos de DFT a nivel de chip y nivel de chip con Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Habilite la automatización integral y la integración de pruebas, reparación, depuración y caracterización de memorias integradas con Tessent MemoryBist.

Habilite el cumplimiento de ISO 26262 con la solución lógica de autoprueba integrada ideal para dispositivos críticos para la seguridad, como los IC utilizados en aplicaciones automotrices y médicas.

Combine la automatización y la IP en chip para permitir la prueba y el diagnóstico de IC en cualquier momento durante el funcionamiento funcional de un vehículo, un requisito fundamental de la norma ISO 26262.

Reduzca el esfuerzo de implementación de DFT con una automatización óptima del flujo de la Tessent Platform para DFT jerárquica.

Mejore los niveles de compresión de prueba hasta 4 veces, habilite DFT jerárquica, preparación lógica BIST e inserción de escaneo con Tessent ScanPro.

Optimice una amplia gama de tareas críticas de DFT con este nuevo software desarrollado para equipos de diseño de IC.

Simplifique el proceso de generación de conjuntos de prueba compactos de alta cobertura. La capacidad de Tessent FastScan para aplicarse a casi cualquier tipo de diseño lo convierte en la solución ATPG más versátil disponible.

Proporcione automatización e integración para pruebas e instrumentación compatibles con IEEE 1687 IJTAG IP de varias fuentes en un diseño de IC.

Automatice la adición del soporte de escaneo de límites estándar IEEE 1149.1 a los IC de cualquier tamaño o complejidad, reduciendo el esfuerzo de desarrollo y mejorando el tiempo de comercialización.

Simule defectos a nivel de transistor para circuitos digitales analógicos, de señal mixta y sin escaneo, automatizando la evaluación de cobertura para ayudar a cumplir con los estándares de calidad como ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro reduce drásticamente los costos de prueba al acelerar la carga/descarga del patrón IJTAG, crucial para los chiplets, diseños 2.5/3DIC y aplicable a otras aplicaciones de prueba a través de Tessent SSN. Mejora IJTAG.

Aplique tecnologías de diagnóstico conscientes del diseño y de las células para clasificar e identificar con precisión la ubicación de los defectos que causan fallas durante las pruebas de fabricación.

Acelere la obtención de pruebas, la depuración y la caracterización del silicio de dispositivos que contienen estructuras de prueba Tessent ATPG, EDT, BIST y/o IJTAG dentro de un entorno interactivo automatizado.

Elimine el ruido de los datos de diagnóstico para determinar las causas raíz subyacentes, identificar limitadores de rendimiento sistemáticos y seleccionar los mejores dispositivos para el análisis de fallas.

Solución de depuración y rastreo RISC-V de extremo a extremo que consiste en IP y software integrados diseñados para proporcionar capacidades de depuración y rastreo integrales y eficientes.

Solución integral de monitoreo funcional para la visibilidad del comportamiento complejo del SoC, que comprende IP configurables, APIs de C ++/Python y una herramienta de generación de subsistemas, que puede acelerar la depuración, validación y optimización de SoC complejos

Permita que el software de aplicación que se ejecuta en un SoC supervise las operaciones de manera efectiva. Permita que los productos sean sucesivamente refinados y optimizados en función de los datos recopilados en el uso de la vida real, no solo en el laboratorio.

Garantice la más alta calidad de prueba de fabricación con las soluciones de Tessent. Maximice el número de defectos físicos detectados en su solución de prueba de cero defectos.

Reduzca el riesgo y cumpla con los estándares de seguridad requeridos con soluciones integrales de prueba en el sistema y clasificación de fallas, asegurando que su producto sea totalmente compatible con las aplicaciones críticas para la seguridad para las que está diseñado.

Implemente una solución de seguridad integral para su producto IC, abordando la autenticación, la comunicación, la protección y la administración del ciclo de vida del dispositivo a través de pruebas, operación funcional y seguridad a nivel de sistema.

Diagnostique y analice los datos de fallas y rendimiento en devoluciones individuales de clientes o datos de producción en volumen. Obtenga valiosos comentarios sobre el diseño y los procesos para mejorar la confiabilidad de los procesos y diseños futuros.