La solución Tessent Embedded Analytics se puede utilizar para producir métricas de estado y operación a lo largo del ciclo de vida de un SoC. El software integrado basado en Tessent Embedded SDK puede impulsar los monitores inteligentes de Tessent Embedded Analytics para crear un sistema de monitoreo en chip autónomo.
Descubra las Tessent Silicon Lifecycle Solutions, desde el diseño para la capacidad de prueba (DFT) hasta el monitoreo en vida para sistemas electrónicos confiables en esta presentación de Diamond impartida por Ankur Gupta en el ITC.
Descubra cómo mejorar la observabilidad del sistema en vida utilizando telemetría de voltaje en tiempo real y monitoreo funcional.
Una solución conjunta que combina la telemetría física en la matriz del detector de caídas Movellus Aeonic Insight™ con las soluciones de monitoreo funcional de Tessent Embedded Analytics. Al vincular estos instrumentos a través de la activación cruzada de hardware, el sistema ofrece una vista única y alineada en el tiempo de lo que sucedió y por qué, correlacionando directamente secuencias de instrucciones específicas o actividad de bus con eventos PDN físicos que los causaron.
Obtenga más información sobre el impacto de la latencia de cola larga y la depuración del servidor. Comprenda las estrategias detalladas de software para evitar la latencia y depurar el rendimiento.
