Questa One Sim FX es un simulador de alto rendimiento utilizado en Design-For-Test (DFT) para la clasificación de fallas funcionales para mejorar la cobertura de defectos para IC complejos. La integración con el líder del mercado Tessent TestKompress ofrece una solución poderosa para abordar cero defectos de piezas por millón (DPPM).
El flujo automatizado y el soporte del formato de Tessent para modelos de fallas avanzados proporcionan una solución única para mejorar la confiabilidad de los IC complejos y de alto rendimiento.
Abordar las fallas que solo pueden activarse mediante patrones funcionales para mejorar la cobertura general de defectos.
Aumente la cobertura de fallas más allá del alcance de los modelos de fallas estructurales.
La clasificación de fallas funcionales ayuda a verificar el funcionamiento correcto y la robustez de los circuitos de señal mixta, como los circuitos de seguridad y los bloques analógicos.
Si bien las pruebas basadas en escaneo ATPG son críticas para detectar fallas estructurales de bajo nivel, la clasificación de fallas funcionales ayuda a garantizar que se mantenga la integridad funcional general del dispositivo y que los patrones de prueba reflejen las condiciones que experimentará el chip en el uso del mundo real. Esta combinación de análisis de fallas estructurales y funcionales ayuda a proporcionar una estrategia de prueba más completa y sólida.
Siemens EDA ofrece soporte al cliente de clase mundial para Questa One Sim FX y todos nuestros productos.
La Academia de Verificación proporciona las habilidades necesarias para madurar las capacidades del proceso de verificación funcional de una organización, proporcionando un puente metodológico entre las propuestas de valor de alto nivel y los detalles de bajo nivel.
Para ayudar con la comprensión de las tecnologías avanzadas de verificación funcional y cómo aplicarlas de manera más efectiva, visite nuestro blog para obtener información y actualizaciones sobre conceptos, valores, estándares, metodologías y ejemplos.
