Métodos de ensayo no destructivos, repetibles y estandarizados
La familia de productos de hardware y software Simcenter Micred está diseñada para evaluar el rendimiento térmico de los componentes electrónicos en condiciones estáticas y dinámicas. El sistema de pruebas térmicas transitorias funciona cambiando rápidamente la potencia de calentamiento aplicada a un dispositivo sometido a prueba (DUT) y midiendo su respuesta térmica. La temperatura de la unión se registra en función de un parámetro sensible a la temperatura que elija el usuario durante la fase de calibración. Los métodos cumplen con las directrices industriales ampliamente adoptadas, como las normas JEDEC y las directrices de cualificación automotriz (AQG) de la ECPE. Los datos resultantes se utilizan para generar perfiles de impedancia térmica, que proporcionan información sobre el comportamiento térmico del componente.
Determinar la métrica térmica, la fiabilidad térmica y la evaluación de la calidad
Los perfiles de impedancia se utilizan entonces para identificar posibles problemas térmicos, como la degradación de la trayectoria térmica, y cualquier cambio en la resistencia térmica se puede rastrear hasta una ubicación. Es una herramienta excelente para diagnosticar los efectos térmicos del envejecimiento, los daños, los fallos, etc., con la detección en tiempo real de las roturas de las uniones de los cables, la fatiga de la soldadura, las matrices y las grietas del sustrato.
Alta fidelidad en un amplio espectro de aplicaciones
Las herramientas de pruebas micrónicas de Simcenter ofrecen una gama de sistemas diseñados para satisfacer las necesidades de diferentes aplicaciones e industrias. Estos sistemas cuentan con tecnologías avanzadas de medición y control con gran precisión, velocidad y precisión. Los utilizan los centros de investigación y en las industrias de semiconductores, electrónica de consumo, automoción y LED durante la ingeniería de componentes, la creación de prototipos y las pruebas.
Un legado de innovación
La familia Simcenter Micred la desarrollaron inicialmente investigadores del Departamento de Dispositivos Electrónicos de la Universidad de Tecnología y Economía (BME) de Budapest. Siemens sigue llevando adelante este legado de innovación.
Caracterización térmica de paquetes de semiconductores: medición térmica, desde la fiabilidad hasta la calidad
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