Tessent SiliconInsight
Tessent SiliconInsight proporciona un entorno interactivo automatizado para probar, depurar y caracterizar el silicio de los dispositivos que contienen las estructuras de prueba ATPG, EDT, BIST o IJTAG de Tessent.
¿Por qué Tessent SiliconInsight?
Aumente considerablemente la productividad durante la validación y depuración del silicio, lo que acelera el tiempo de comercialización. La solución Tessent SiliconInsight funciona en un entorno de sobremesa y se conecta a cualquier placa de depuración, rendimiento o activación, accediendo a hasta 120 pines del dispositivo.
Validar los patrones de prueba antes del primer silicio
Valide los patrones de prueba antes del primer silicio utilizando el diseño de un simulador estándar, inyecte los fallos, caracterice los posibles escenarios de fallo sin silicio.
Caracterización de bajo coste y alta disponibilidad
Entorno de depuración de escritorio para ATPG, MBIST, LBIST e IJTAG mediante el acceso a hasta 120 pines del dispositivo mediante adaptadores USB de terceros. Capacidad shmoo de alimentación y reloj a través de GPIB.
Vincular el poder de IJTAG con ATE
La tecnología ATE-Connect crea una interfaz estándar del sector para eliminar las barreras de comunicación entre el software propietario y específico para los probadores y las plataformas de diseño para pruebas (DFT).
Acelerar la aparición de patrones en los diseños con un alto número de alfileres
Escuche mientras Ari Krantz, ingeniero de DFT de Broadcom, habla sobre la aceleración de la aparición de patrones en los diseños con un alto número de pines, un estudio de caso industrial que utiliza SiliconInsight-HP beta.
Supere las barreras de rendimiento con PDF Solutions y Siemens
Superar las barreras de rendimiento y acelerar la subida de rendimiento exige nuevas soluciones que aprovechen las mejores tecnologías del mercado. En este seminario web, los tecnólogos de Siemens y PDF Solutions presentan una solución integral e integrada que incluye análisis, diagnóstico por escaneo y aprendizaje automático.
