El MemoryBist de Tessent ofrece una solución completa para probar, diagnosticar, reparar, depurar y caracterizar rápidamente las memorias integradas. Gracias a una arquitectura jerárquica flexible, la autocomprobación y la autorreparación integradas se pueden integrar en los núcleos individuales y en el nivel superior.
El Tessent MemoryBist, un autotest integrado de memoria líder del sector, incluye un flujo de automatización único y completo que permite comprobar las reglas de diseño, la planificación de las pruebas, la integración y la verificación, todo a nivel de RTL o puerta.
El ECC MemoryBist de Tessent mejora la fiabilidad, mejora la calidad de las pruebas y protege contra los defectos de envejecimiento. Sus criterios personalizables de aprobación o rechazo permiten una combinación óptima de redundancia de memoria y código de corrección de errores.
El NVM Tessent MemoryBist ofrece pruebas y reparaciones flexibles, reduce los costes de fabricación de las pruebas y mejora la fiabilidad. Los algoritmos automatizados específicos de NVM permiten modos de acceso especializados y funcionan con la opción ECC. Disponible a principios de los 26
El BAP avanzado proporciona una interfaz configurable para optimizar las pruebas en el sistema. También es compatible con un protocolo de baja latencia para configurar el controlador BIST de memoria, ejecutar las pruebas Go/NoGo y supervisar el estado de aprobación o rechazo.
Los algoritmos de prueba de memoria pueden codificarse en el controlador MemoryBist de Tessent y luego aplicarse a cada memoria mediante el control en tiempo de ejecución. Esto le permite seleccionar algoritmos de prueba más cortos a medida que el proceso de fabricación madura.
La opción de reparación Tessent MemoryBist elimina las complejidades y los costes asociados a los flujos de reparación externos. Comprueba y repara permanentemente todas las memorias defectuosas de un chip prácticamente sin recursos externos.
Vea a Etienne Racine, director de producto de Tessent, hablar sobre cómo Tessent MemoryBist puede ayudar a maximizar la calidad de las pruebas, minimizar el tiempo de las pruebas, mejorar el rendimiento y reparar las memorias con su arquitectura flexible.
Descubra cómo el uso del software Tessent le permite alinearse con las normas y reglamentos emergentes y, al mismo tiempo, ofrecer un conjunto completo de soluciones integrales para abordar los requisitos de los desarrollos actuales de circuitos integrados para automóviles.
Este artículo describe las ventajas de utilizar una arquitectura de bus compartido para probar y reparar las memorias en los núcleos de IP y presenta la automatización disponible en Tessent MemoryBist.
Este caso práctico describe cómo ON Semiconductor utilizó el flujo jerárquico de MemoryBIST de Tessent para reducir 6 veces el tiempo de inserción del BIST de la memoria.
