Tessent LogicBist
Tessent LogicBist es la solución de autocomprobación integrada líder del sector para comprobar los componentes lógicos digitales de los circuitos integrados. Es una solución de prueba ideal para dispositivos críticos para la seguridad, como los circuitos integrados utilizados en aplicaciones automotrices y médicas.
¿Por qué Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se integra de manera eficiente con Tessent MissionMode y Tessent TestKompress para crear una solución completa de pruebas en el sistema y en la fabricación para dispositivos críticos para la seguridad.
Mejora la cobertura de las pruebas
Diseñada para aplicaciones híbridas de TK y LBIST, la tecnología de puntos de prueba VersaPoint de Tessent mejora el recuento de patrones del ATPG y la capacidad de comprobación del BIST lógico al mismo tiempo, lo que mejora la cobertura del LBIST entre un 2 y un 4%.
Cumple con la hora de las pruebas del sistema
Al observar los datos del circuito en cada ciclo de turno, no solo en la captura, la tecnología de escaneo de observación (OST) reduce significativamente el recuento de patrones necesario para alcanzar la cobertura de las pruebas BIST de la lógica objetivo.
Aumenta la eficacia de las pruebas
El Tessent Hybrid TK/LBIST combina de forma eficaz la arquitectura lógica de Tessent TestKompress y LogicBIST para mejorar la calidad de las pruebas y, al mismo tiempo, evitar cualquier penalización de área y aprovechar las ventajas de la compresión ATPG y del BIST lógico.
Infineon reduce el tiempo de las pruebas del LBIST a la seguridad funcional
En esta presentación, Daniel Tille, de Infineon, muestra el uso de LogicBist con la tecnología de escaneo de observación, que se ha demostrado que reduce drásticamente el tiempo de prueba de autocomprobación integrada (LBIST) de la lógica para los microcontroladores (MCU) de Infineon Automotive.
