Se requieren pruebas y monitorización continuas de los dispositivos para garantizar un rendimiento, una fiabilidad y una seguridad óptimos durante todo su funcionamiento. El Tessent In-System Test permite aplicar patrones de prueba deterministas de alta calidad para las pruebas en el sistema o en el campo durante el ciclo de vida de su chip.
Tessent In-System Test proporciona el hardware integrado y el software necesarios para permitir la aplicación de patrones de pruebas deterministas de alta calidad y, al mismo tiempo, reducir el tiempo de prueba en comparación con el BIST lógico tradicional.
La prueba determinista integrada en el sistema le permite cambiar los patrones de las pruebas a medida que aparecen nuevos modelos de defectos y fallos o cuando las necesidades del contenido de las pruebas cambian.
El controlador de pruebas integrado en el sistema obtiene datos de las interfaces de bus, lo que impulsa la red de buses de la red Streaming Scan Network internamente para aplicar los paquetes de datos de escaneo a los núcleos para realizar las pruebas, reduce el tiempo de prueba y mejora el perfil de potencia durante la prueba.
Reutiliza la infraestructura de pruebas integrada en el chip existente para detectar defectos latentes, intermitentes, aleatorios o relacionados con la edad durante la vida útil del producto, al permitir la reutilización de los patrones basados en IJTAG y SSN para las aplicaciones del sistema.
Ofrece las capacidades de hardware y software totalmente automatizadas necesarias para responder a los factores ambientales y de envejecimiento que se manifiestan como errores o corrupción silenciosos de datos. El contenido de las pruebas se puede cambiar a medida que evolucionen los requisitos de las pruebas.
Lanzado en el ITC 2024, el Tessent In-System Test (IST) complementa la Tessent Streaming Scan Network (SSN) y mejora su capacidad de uso en un entorno dentro del sistema y sobre el terreno, ampliando así la tecnología avanzada que ofrece Tessent SSN. Los diseñadores pueden aplicar los patrones de prueba determinista (EDT) integrados generados con el software SSN de Tessent a través del bus SSN directamente mediante el controlador de pruebas del sistema.
El Tessent In-System Test integra la prueba determinista en el sistema (IS-EDT) con la red de escaneo en streaming de Tessent para permitir a los usuarios ejecutar patrones deterministas en el sistema. Si bien la demanda de patrones IS-EDT es fundamental en la industria de la automoción, esta tecnología también beneficia a los diseños de centros de datos y redes. Este artículo describe cómo Tessent In-System Test satisface las necesidades de pruebas en el sistema y sobre el terreno.
Descubra cómo el uso del software Tessent le permite alinearse con las normas y reglamentos emergentes y, al mismo tiempo, ofrecer un conjunto completo de soluciones integrales para abordar los requisitos de los desarrollos actuales de circuitos integrados para automóviles.
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