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Microchip AnalogTest.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest reduce el desarrollo y la verificación de patrones de pruebas analógicas de meses de ingeniería a horas de ingeniería. Como la única solución comercial disponible actualmente, es la forma más eficaz de maximizar la cobertura de defectos y reducir los costes de las pruebas.

¿Por qué Tessent AnalogTest?

Probar circuitos analógicos ha sido tradicionalmente un proceso manual y tedioso. El Tessent AnalogTest permite reducir entre 10 y 100 veces el tiempo de las pruebas analógicas de silicio en comparación con las pruebas de especificación tradicionales.

Reducir el coste de las pruebas

Las pruebas analógicas requieren tiempos de prueba prolongados en costosos comprobadores de señal mixta. Tessent AnalogTest genera circuitos DFT y patrones de prueba digitales con un impacto mínimo para probar el bloque de circuitos analógicos en menos de 1 ms en comprobadores solo digitales.

Aumentar la eficiencia de la ingeniería

Tessent AnalogTest transforma la DFT analógica y el desarrollo de pruebas en un proceso rápido y automatizado. Las pruebas estructurales y de especificación se verifican en la simulación antes de ejecutarse en ATE o en el sistema, lo que reduce el tiempo de depuración.

Maximice la cobertura de las pruebas analógicas

Las pruebas de especificaciones de los circuitos analógicos pueden tener una cobertura de prueba más baja para minimizar la pérdida de rendimiento. La DFT y el ATPG basados en el escaneo digital pueden proporcionar patrones de prueba simulados que permiten una mayor cobertura de los defectos sin aumentar la pérdida de rendimiento.

Pregúntele a un experto: un hombre y una mujer tienen una consulta en una oficina.

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Estamos listos para responder a sus preguntas.

Reduzca el tiempo de comercialización con la cobertura de Tessent AnalogTest

Descubra cómo minimizar los escapes de las pruebas de fabricación de circuitos analógicos y de señal mixta y mejorar el tiempo de comercialización de un producto con Tessent AnalogTest.