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Realizar una monitorización y una optimización continuas

La solución Tessent Embedded Analytics se puede utilizar para producir métricas de estado y funcionamiento a lo largo del ciclo de vida de un SoC. El software integrado basado en el SDK de Tessent Embedded puede impulsar los monitores inteligentes Tessent Embedded Analytics para crear un sistema de monitorización integrado en el chip autónomo.

Chip electrónico

Impulse la depuración y la optimización del SoC mediante software integrado

Descubra cómo el software integrado puede ofrecer una alternativa superior a la extracción de información de los monitores integrados en el chip

Vídeo

De la DFT a la monitorización permanente de sistemas electrónicos

Descubra Tessent Silicon Lifecycle Solutions, desde el diseño para la capacidad de comprobación (DFT) hasta la monitorización permanente de sistemas electrónicos fiables, en esta presentación de diamante ofrecida por Ankur Gupta en el ITC.

Vídeo

Detectar, diagnosticar y depurar sistemas durante la vida

Descubra cómo mejorar la observabilidad del sistema durante la vida útil mediante la telemetría de tensión en tiempo real y la monitorización funcional.

White paper

Mejorar la observabilidad del sistema

Una solución conjunta que combina la telemetría física integrada del detector de caídas Aeonic Insight™ de Movellus con las soluciones de monitorización funcional de Tessent Embedded Analytics. Al vincular estos instrumentos mediante la activación cruzada del hardware, el sistema ofrece una visión única y alineada en el tiempo de lo que ocurrió y por qué, correlacionando directamente las secuencias de instrucciones específicas o la actividad del bus con los eventos físicos de PDN que las provocaron.

3D IC azul
White paper

Latencia larga y depuración de servidores

Obtenga más información sobre el impacto de la latencia larga y la depuración de servidores. Comprenda las estrategias de software detalladas para evitar la latencia y depurar el rendimiento.

Un grupo de personas está de pie frente a una pantalla grande que muestra un gráfico y un texto sobre las tecnologías más populares.