Calibre LSG proporciona una generación de diseños guiados y aleatorios configurables por el usuario para producir tejidos de diseño limpios para la DRC para el desarrollo de chips de pruebas ópticas y eléctricas. Calibre LSG acorta el ciclo de creación de chips de prueba para las mediciones del silicio e impulsa la mejora de los procesos con mayor rapidez.

Calibre LSG proporciona diseños que contienen información real sobre puntos críticos de litografía para un entrenamiento de aprendizaje automático cuando los datos de diseño reales no están disponibles. Los conjuntos de datos de aprendizaje automático se pueden enriquecer mejorando la cobertura del espacio de diseño con el Calibre LSG, y se puede entrenar un motor de aprendizaje automático preciso para las aplicaciones de aprendizaje automático de EDA para la predicción de puntos críticos a principios del ciclo de desarrollo.