Aproveche varias plataformas desde el diseño hasta la fabricación
Las soluciones de Calibre Defect Management agrupan los defectos según la coincidencia de patrones y aprovechan la DRC/LVS para analizar los atributos de diseño y la criticidad neta basados en la ubicación de los defectos. La perfecta integración con las herramientas de diseño facilita la conexión directa entre el diseño físico y la inspección de defectos.
Sonda cruzada para diseñar el análisis
La GUI de gestión de defectos de Calibre integra varias funciones de análisis de diseño de Calibre y proporciona diferentes funciones de análisis guiado por el diseño basadas en defectos para que los usuarios puedan identificar y corregir fácilmente la causa principal de los defectos.
Reducir la selección, de la inspección del BFI al análisis SEM
Calibre Defect Management proporciona aplicaciones de muestreo descendente mediante la integración con las técnicas SONR de Calibre, una metodología de clasificación y predicción basada en el aprendizaje automático, para mejorar la tasa de aciertos de defectos y destacar los patrones sistemáticos con un presupuesto de muestreo limitado para la revisión del SEM.
Análisis de defectos basado en imágenes SEM
La capacidad de procesamiento de imágenes SEM de Calibre Defect Management permite un anclaje preciso entre la ubicación del defecto de la máscara/oblea y la ubicación del defecto del diseño. Se utilizan técnicas como la alineación SEM con el diseño, la extracción de contornos y la clasificación automática de defectos basada en SEM para garantizar un análisis preciso de los defectos.
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Servicios de consultoría de calibre
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Diseño y fabricación de circuitos integrados de calibre
El conjunto de herramientas Calibre ofrece una verificación y optimización de circuitos integrados precisas, eficientes y completas en todos los nodos de proceso y estilos de diseño, a la vez que minimiza el uso de los recursos y los programas de grabación.