Την τελευταία δεκαετία, η τεχνολογία φωτονικής υπήρξε μια αναδυόμενη τεχνολογία για τις οπτικές τηλεπικοινωνίες και τις οπτικές διασυνδέσεις στη μικροηλεκτρονική. Ως αποτέλεσμα, μια μεγάλη ποικιλία μεθοδολογιών σχεδιασμού φωτονικής έχει συγχωνευθεί με πολύ δύσκολες κλίμακες και σχήματα. Η κατασκευή τέτοιων καμπύλων και κρίσιμων φωτονικών σχημάτων απαιτεί προηγμένες τεχνικές βελτίωσης ανάλυσης (RET), συμπεριλαμβανομένων τεχνικών αντίστροφης λιθογραφίας (ILT) με λιθογραφία εμβάπτισης 193 nm. Σε αυτό το άρθρο, διερευνούμε τις προκλήσεις κατασκευής πολλών συσκευών φωτονικής χρησιμοποιώντας προηγμένες λύσεις ILT και τον αντίκτυπο της εισαγωγής SRAF στην παροχή καλής ποιότητας λιθίου, συμπεριλαμβανομένου του σφάλματος τοποθέτησης άκρων (EPE), του PVBand και της τραχύτητας άκρων γραμμής (LER). Θα δείξουμε πώς οι λύσεις Calibre ILT επιτρέπουν την κατασκευή των πιο απαιτητικών σχεδίων φωτονικής.



