Eine Person steht vor einem großen Bildschirm, auf dem ein farbenfrohes abstraktes Design abgebildet ist.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan ist eine Komplettlösung für die automatische Generierung und Integration von On-Chip-Testinfrastruktur, Boundary-Scan und Test-Access-Port.

Warum Tessent BoundaryScan?

Auf die BoundaryScan-Logik von Tessent kann während der gesamten Lebensdauer des ICs zugegriffen werden, einschließlich Herstellungstests auf allen Verpackungsebenen, Silizium-Debugging und Systemverifizierung zur Erkennung von Defekten vor dem Versand, wodurch die Kosten für den Support vor Ort gesenkt und die Kundenzufriedenheit erhöht werden.

Vollständiger Boundary-Scan und TAP-Controller-Integration

Generiert automatisch den RTL-Code für den TAP-Controller und die Boundary-Scan-Zellen und integriert ihn in das Design-RTL. Generiert Skripte für die Logiksynthese, Simulationsprüfstände und Testmuster für Fertigungstests.

Unterstützt mehrere Formate

Tessent Boundary Scan unterstützt benutzerdefinierte Boundary-Scan-Zellen nach IEEE 1149.1 und kontaktlose I/O-Tests und bietet eine Option für 1149.6 Boundary-Scan-Unterstützung.

IEEE 1687 IJTAG-Interoperabilität

Verbindet automatisch IJTAG-Netzwerke und Instrumente mit dem neu eingefügten TAP-Controller und generiert daraus resultierende Instrument Connectivity Language-Dateien. I/O-Tests werden im PDL-Format (Procedural Description Language) generiert.

Weitere Informationen

Präsentation

Tessent Embedded Boundary Scan

Dieses Video zeigt den Implementierungsablauf von Tessent Boundary Scan (1149.1) auf der obersten Ebene und Tessent Embedded Boundary Scan auf der physischen Blockebene in Tessent Shell.

Leiterplattendiagramm mit farbigen Blöcken und Verbindungslinien, die elektronische Komponenten und Pfade darstellen.

Konvertierung der Boundary-Scan-Sprachbeschreibung

In weniger als fünf Minuten zeigt das Video, wie man Tessent IJTAG verwenden kann, um eine BSDL-Datei (Boundary Scan Description Language) einfach in das entsprechende ICL-Dateiäquivalent (Instrument Connectivity Language) zu konvertieren.

Ein Diagramm, das die Verwendung von Boundary-Scan für die automatische Generierung von Testmustern zeigt.

Überblick über die Technologie

Verwendung der Boundary Scan Chain während ATPG

Dieses Video zeigt die Verwendung von Boundary-Scan als komprimierte oder unkomprimierte Kette während des ATPG, sodass nicht alle Pins des zu testenden Geräts (DUT) kontaktiert werden müssen.

Leute, die sich maschinelles Lernen oder Deep-Learning-Diagramm ansehen

Lernpfad

Tessent Training > Integrierter Tessent Flow

Erfahren Sie, wie Sie MIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion und TestKompress in Ihr Design implementieren, um mit mehreren Tessent-Tools eine hohe Testqualität zu erzielen.