Der automatisierte Ablauf und die Unterstützung des Tessent-Formats für erweiterte Fehlermodelle bieten eine einzigartige Lösung zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von leistungsstarken und komplexen ICs.
Beheben Sie Fehler, die nur durch Funktionsmuster aktiviert werden können, um die allgemeine Fehlerabdeckung zu verbessern.
Erhöhen Sie die Fehlerabdeckung über den Rahmen struktureller Fehlermodelle hinaus.
Die Bewertung funktionaler Fehler hilft dabei, den korrekten Betrieb und die Robustheit von Mixed-Signal-Schaltungen wie Sicherheitsschaltungen und analogen Blöcken zu überprüfen.
ATPG-Scan-Tests sind zwar entscheidend für die Erkennung von strukturellen Fehlern auf niedriger Ebene, aber die funktionale Fehlerbewertung hilft sicherzustellen, dass die allgemeine Funktionsintegrität des Geräts erhalten bleibt und dass die Testmuster die Bedingungen widerspiegeln, denen der Chip im realen Einsatz ausgesetzt sein wird. Diese Kombination aus struktureller und funktionaler Fehleranalyse trägt zu einer umfassenderen und robusteren Teststrategie bei.
Siemens Eda bietet erstklassigen Kundensupport für Dieser eine, Sim FX und all unsere Produkte.
Die Verification Academy vermittelt die Fähigkeiten, die erforderlich sind, um die Fähigkeiten eines Unternehmens im Bereich der funktionalen Verifizierung weiterzuentwickeln, und bietet eine methodische Brücke zwischen den Leistungsversprechen auf hoher Ebene und den Details auf niedriger Ebene.
Besuchen Sie unseren Blog, um Einblicke und Updates zu Konzepten, Werten, Standards, Methoden und Beispielen zu erhalten, um Ihnen das Verständnis fortschrittlicher Technologien zur Funktionsüberprüfung zu erleichtern und zu erfahren, wie Sie sie am effektivsten anwenden können.
