Tessent Diagnosis
Ved hjælp af fejldata fra produktionstest, scanningstestmønstre og designinformation identificerer Tessent Diagnosis placeringen og klassificeringen af den defekt, der forårsager fejlen.
Hvorfor Tessent Diagnosis?
Tessent Diagnose-løsningen identificerer typen og placeringen af defekter og danner grundlaget for diagnosedrevet udbytte- og fejlanalyse.
Identificer nøjagtigt fejl og timingfejl
Brug layout-bevidst og cellebevidst teknologi til at bestemme en defekts mest sandsynlige fejlmekanisme, logiske placering og fysiske placering.
Cellebevidst diagnose
Udfør diagnose på transistorniveau for at identificere defekter inde i standardceller. Denne funktion udnytter den samme cellebevidste fejlmodel, der bruges til celleopmærksom ATPG og fungerer med enhver mønstertype.
Kædediagnose i høj opløsning
Forbedre diagnosen med> 1,5x på avancerede procesnoder (5nm og derunder). Giver nøjagtig isolering på transistorniveau for scanningskædefejl. Sikrer, at dybe punktdefekter kan isoleres med præcision.
Korrelere med DFM-analyse
Diagnoseresultater kan korreleres med DFM-analyseresultater for at identificere kritiske designfunktioner. Tessent Diagnosis kan læse resultatdatabaser (RDB) fra Calibre.
Pålidelig teknologi
Tessent Diagnosis er markedsleder inden for scanningsdiagnoseteknologi med den højeste nøjagtighed. Mere end 80% af rapporterne genereret ved hjælp af Tessent Diagnosis er blevet bekræftet ved hjælp af en fejlanalyseproces.
Forbedringer af kædediagnose med Tessent-teknologier
Jayant D'Souza, Senior Product Manager hos Tessent, fortæller om at udnytte Tessents kædediagnoseteknologi med høj opløsning til at forbedre udbyttet for at imødekomme time-to-market-vinduer ved at finde mere systematiske fejl og forbedre opløsningen med op til 80%.
