Skip to main content
Denne side vises ved hjælp af automatiseret oversættelse. Vil du have den vist på engelsk i stedet?
sidebillede af chip ombord med blå baggrund
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Opnå den højeste kvalitet indlejret deterministisk scanningstest med de laveste produktionstestomkostninger ved hjælp af Tessent TestKompress.

Hvorfor Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, et brancheførende scanningstestværktøj, bruger Embedded Deterministic Test-teknologi til at opnå det højeste niveau af testkvalitet, mens scanningsmønstre komprimeres ofte 100X eller mere.

Højeste fejldækning

TestKompress understøtter alle traditionelle fejlmodeller, der bruges til at afdække både statiske og dynamisk aktiverede defekter. Understøttelse af brugerdefinerede fejlmodeller gør det også muligt at modellere og målrette stort set enhver fejlmekanisme.

Fuldt automatiseret

TestKompress tilbyder omfattende automatisering, TCL-baseret scripting og introspektionsfunktioner. For at maksimere gennemstrømningen kan automatisk testmønstergenerering (ATPG) fordeles på tværs af flere processorer.

Lavere testtid og mønsterantal

Bygget på den patenterede Embedded Deterministic Test (EDT) teknologi, Tessent TestKompress reducerer både testtid og mønstervolumen med flere størrelsesordener uden tab af fejldækning.

Spørg en ekspert - Mand og kvinde, der har en konsultation på et kontor.

Klar til at lære mere om Tessent?

Vi står klar til at besvare dine spørgsmål.

Få mere at vide