Tessent MemoryBist giver en komplet løsning til hurtig test, diagnose, reparation, fejlfinding og karakterisering af indlejrede minder. Ved hjælp af en fleksibel hierarkisk arkitektur kan indbygget selvtest og selvreparation integreres i individuelle kerner såvel som på øverste niveau.
Tessent MemoryBist, en brancheførende hukommelsesindbygget selvtest, inkluderer et unikt omfattende automatiseringsflow, der giver kontrol af designregler, testplanlægning, integration og verifikation alt sammen på RTL- eller portniveau.
Tessent MemoryBist ECC forbedrer pålideligheden, forbedrer testkvaliteten og beskytter mod aldringsfejl. Dens tilpasselige best/fail-kriterier giver mulighed for en optimal kombination af hukommelsesredundans og fejlkorrigerende kode.
Tessent MemoryBist NVM giver fleksibel test og reparation, reducerer produktionstestomkostningerne og forbedrer pålideligheden. Automatiserede NVM-specifikke algoritmer muliggør specialiserede adgangstilstande og arbejder med ECC-indstillingen. Tilgængelig tidligt 26
Den avancerede BAP giver en konfigurerbar grænseflade til optimering af test i systemet. Det understøtter også en protokol med lav latenstid til at konfigurere hukommelsesBIST-controlleren, udføre GO/NoGo-test og overvåge status for bestået/fejlet.
Hukommelsestestalgoritmer kan hardkodes i Tessent MemoryBist-controlleren og derefter anvendes på hver hukommelse gennem kørselskontrol. Dette giver dig mulighed for at vælge kortere testalgoritmer, efterhånden som fremstillingsprocessen modnes.
Tessent MemoryBist-reparationsmuligheden eliminerer kompleksiteten og omkostningerne forbundet med eksterne reparationsstrømme. Det tester og reparerer permanent alle defekte minder i en chip ved hjælp af næsten ingen eksterne ressourcer.
Se Etienne Racine, Tessent Product Manager, tale om, hvordan Tessent MemoryBist kan hjælpe med at maksimere testkvaliteten, minimere testtiden, forbedre udbyttet og reparere minder med sin fleksible arkitektur.
Lær, hvordan du ved hjælp af Tessent-software kan tilpasse dig nye standarder og forskrifter, samtidig med at du tilbyder et komplet komplet sæt af løsninger, der imødekommer kravene i nutidens udvikling af bil-IC.
Dette papir beskriver fordelene ved at bruge en delt busarkitektur til test og reparation af minder inden for iPS-kerner og præsenterer den automatisering, der er tilgængelig i Tessent MemoryBist.
Dette casestudie beskriver, hvordan ON Semiconductor brugte det hierarkiske Tessent MemoryBist-flow til at reducere hukommelsens BIST-indsættelsestid med 6X.
