Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist er branchens førende indbyggede selvtestløsning til test af de digitale logiske komponenter i integrerede kredsløb. Det er en ideel testløsning til sikkerhedskritiske enheder såsom IC'er, der anvendes i bil- og medicinske applikationer.
Hvorfor Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist integreres effektivt med Tessent MissionMode og Tessent TestKompress for at skabe en komplet testløsning i systemet og produktionen til sikkerhedskritiske enheder.
Forbedrer testdækningen
Tessent VersaPoint-testpunktsteknologien er udviklet til hybride TK/LBIST applikationer og forbedrer ATPG-mønstertællingen og logiske BIST testbarhed på samme tid, hvilket forbedrer LBIST-dækningen med 2% -4%.
Opfylder testtid i systemet
Ved at observere kredsløbsdata ved hver skiftcyklus, ikke kun ved indfangning, reducerer Observation Scan Technology (OST) betydeligt antallet af mønstre, der er nødvendigt for at nå mållogisk BIST testdækning.
Øger testeffektiviteten
Tessent Hybrid TK/LBIST kombinerer effektivt den logiske arkitektur fra Tessent TestKompress og LogicBist for at forbedre testkvaliteten, samtidig med at man undgår arealstraf og høster fordelene ved både ATPG-komprimering og logisk BIST.
Infineon reducerer LBIST testtid til funktionel sikkerhed
I denne præsentation viser Daniel Tille fra Infineon brugen af LogicBist med Observation Scan Technology, som har vist sig at reducere logisk indbygget selvtest (LBIST) testtid drastisk for Infineon Automotive mikrocontrollere (MCU'er).
