Kontinuerlig test og overvågning af enheder er påkrævet for at garantere optimal ydeevne, pålidelighed og sikkerhed under hele deres drift. Tessent In-System Test muliggør anvendelse af deterministiske testmønstre af høj kvalitet til test i systemet/i marken i løbet af din chips livscyklus.
Tessent In-System Test leverer den indlejrede hardware og nødvendig software til at muliggøre anvendelse af deterministiske testmønstre af høj kvalitet, samtidig med at testtiden reduceres sammenlignet med traditionel logisk BIST.
Deterministisk test i systemet giver dig mulighed for at ændre testmønstre, når nye defekter og fejlmodeller opstår, eller når testindholdsbehov ændres.
Testcontrolleren i systemet henter data fra busgrænseflader og driver Streaming Scan Network-busnetværket internt for at anvende scanningsdatapakker til kerner til test, sænker testtiden og forbedrer strømprofilen under testen.
Genbruger eksisterende on-chip testinfrastruktur til at målrette latente, intermitterende, tilfældige eller aldersrelaterede defekter i produktets levetid ved at muliggøre genbrug af IJTAG- og SSN-baserede mønstre til applikationer i systemet.
Leverer fuldautomatiske hardware- og softwarefunktioner, der er nødvendige for at reagere på aldrende og miljømæssige faktorer, der manifesterer sig som lydløse datafejl/korruption. Testindhold kan ændres, efterhånden som testkravene udvikler sig.
Tessent In-System Test (IST) blev lanceret på ITC 2024 og supplerer Tessent Streaming Scan Network (SSN) og forbedrer dets evne til at blive brugt i et in-system, in-field miljø, hvilket udvider den avancerede teknologi, Tessent SSN leverer. Designere kan anvende indlejrede deterministiske testmønstre (EDT) genereret ved hjælp af Tessent SSN-software gennem SSN-bussen direkte ved hjælp af testcontrolleren i systemet.
Tessent In-System Test integrerer in-system deterministisk test (IS-EDT) med Tessent Streaming Scan Network for at give brugerne mulighed for at køre deterministiske mønstre i systemet. Mens efterspørgslen efter IS-EDT-mønstre er kritisk i bilindustrien, gavner denne teknologi også datacenter- og netværksdesign. Dette papir skitserer, hvordan Tessent In-System Test opfylder behovene for test i systemet og i marken.
Lær, hvordan du ved hjælp af Tessent-software kan tilpasse dig nye standarder og forskrifter, samtidig med at du tilbyder et komplet komplet sæt af løsninger, der imødekommer kravene i nutidens udvikling af bil-IC.
Få mere at vide om den voksende rolle, som design af integreret kredsløb (IC) spiller i digital transformation i denne hvidbog.
