En person står foran en stor skærm, der viser et farverigt abstrakt design.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan er en komplet løsning til automatiseret generering og integration af on-chip testinfrastruktur, grænsescanning og testadgangsport.

Hvorfor Tessent BoundaryScan?

Tessent BoundaryScan-logik kan tilgås gennem hele IC'ens levetid, herunder produktionstest på alle pakkeniveauer, siliciumfejlfinding og systemverifikation for at opdage fejl inden afsendelse, reducere feltsupportomkostninger og øge kundetilfredsheden.

Komplet grænsescanning og integration af TAP-controller

Genererer og integrerer automatisk RTL-kode til TAP-controlleren og grænsescanningscellerne i design-RTL. Genererer scripts til logisk syntese, simuleringstestbænke og testmønstre til fremstillingstest.

Understøtter flere formater

Tessent Boundary scan understøtter IEEE 1149.1 brugerdefinerede grænsescanningsceller og kontaktløs I/O-test og har mulighed for 1149.6-grænsescanningsstøtte.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilitet

Forbinder automatisk IJTAG-netværk og instrumenter til den nyligt indsatte TAP-controller og genererer resulterende Instrument Connectivity Language-filer. I/O-test genereres i PDL-format (Procedural Description Language).

Få mere at vide

Præsentation

Tessent indlejret grænsescan

Denne video viser implementeringsflowet af Tessent Boundary Scan (1149.1) på øverste niveau og Tessent Embedded Boundary Scan på det fysiske blokniveau i Tessent Shell.

Kredsløbsdiagram med farvede blokke og forbindelseslinjer, der repræsenterer elektroniske komponenter og veje.

Beskrivelse af sprog til konvertering af grænsescanningssprog

På mindre end fem minutter viser videoen, hvordan man kan bruge Tessent IJTAG til nemt at konvertere en BSDL (Boundary Scan Description Language) fil til dens ICL (Instrument Connectivity Language) filækvivalent.

Et diagram, der viser brugen af grænsescanning til automatisk testmønstergenerering.

Teknologioversigt

Brug af grænsescanningskæde under ATPG

Denne video demonstrerer brugen af grænsescanning som komprimeret eller ukomprimeret kæde under ATPG, så alle stifter på enheden under test (DUT) ikke behøver at blive kontaktet.

Folk, der ser på maskinlæring eller deep learning-diagram

Læringsvej

Tessent Træning > Tessent Integreret Flow

Lær hvordan du implementerer MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion og TestKompress i dit design for at opnå høj testkvalitet ved hjælp af flere Tessent-værktøjer.