Skip to main content
Denne side vises ved hjælp af automatiseret oversættelse. Vil du have den vist på engelsk i stedet?
AnalogTest mikrochip.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest reducerer udvikling og verifikation af analoge testmønstre fra ingeniørmåneder til ingeniørtimer. Som den eneste kommercielle løsning, der i øjeblikket er tilgængelig, er det den mest effektive måde at maksimere fejldækningen og samtidig reducere testomkostningerne.

Hvorfor Tessent AnalogTest?

Test af analoge kredsløb har traditionelt været en kedelig, manuel proces. Tessent AnalogTest muliggør 10x-100x reduktion i siliciumanalog testtid sammenlignet med traditionelle specifikationstest.

Reducer testomkostningerne

Analog test kræver lange testtider på dyre blandede signaltestere. Tessent AnalogTest genererer DFT-kredsløb med minimal påvirkning og digitale testmønstre for at teste analog kredsløbsblok på <1 ms på kun digitale testere.

Forøg ingeniøreffektiviteten

Tessent AnalogTest omdanner analog DFT og testudvikling til en hurtig, automatiseret proces. Strukturelle test og specifikationstest verificeres i simulering, før de køres på ATE eller i systemet, hvilket reducerer fejlfindingstiden.

Maksimer analog testdækning

Specifikationstest af analoge kredsløb kan have lavere testdækning for at minimere udbyttetab. Digital scan-baseret DFT og ATPG kan give simulerede testmønstre, der opnår højere defektdækning uden at øge udbyttetabet.

Spørg en ekspert - Mand og kvinde, der har en konsultation på et kontor.

Klar til at lære mere om Tessent?

Vi står klar til at besvare dine spørgsmål.

Reducer markedsføringstiden med Tessent AnalogTest-dækning

Find ud af, hvordan du minimerer produktionstestudslip for analoge og blandede signalkredsløb og forbedrer et produkts tid til markedet med Tessent AnalogTest.