Sikre kvalitet

Få den deterministiske scanningstest af højeste kvalitet med de laveste produktionstestomkostninger ved hjælp af patenteret on-chip komprimering for at reducere testdatamængden og reducere testtiden.

Reducer udviklingstiden for design for testbarhed (DFT) og produktionstestomkostninger ved at afkoble DFT-krav på kerneniveau og chip-niveau.

Overvinde kvalitetsbegrænsningerne ved traditionelle DFT-metoder. Målret defekter i IC'er på transistor- og sammenkoblingsniveauer med vores automatiske testmønstergenerering (ATPG) i bilkvalitet.

Opnå omfattende automatisering og integration af test, reparation, fejlfinding og karakterisering af indlejrede minder.

Tilfredsstille kravene til IC'er til det hurtigt voksende bilelektronikmarked og imødekomme kravene fra nye markeder og teknologier.

Simulere defekter på transistorniveau for analoge, blandede signaler og ikke-scannende digitale kredsløb. Opfyld kvalitetsstandarder som ISO26262 med automatiseret dækningsvurdering.

Lee Harrison, direktør for produktmarkedsføring for Tessent, taler om Streaming Scan Network (SSN) busser og den næste generation af design-for-test-teknologi i dette interview med Electronics Weekly interview.

Lær om cybersikkerhed og sikkerhedstendenser til biler og fremtiden for mobilitetsteknologisikkerhed. Find ud af, hvordan Siemens EDA repræsenterer et smart valg for bilvirksomheder inden for økosystemet.

Sørg for kvalitet, forøg sikkerheden, optimer ydeevnen og øg pålideligheden ved at integrere små moduler direkte i dit system-on-chip (SoC), så du kan observere, hvad der sker i dit design uden indgriben.

Læs, hvordan et stigende antal standarder og regler inden for biløkosystemet lover at spare udviklingsomkostninger ved at afværge cyberangreb.