Tessent produkter

Tessent AnalogTest reducerer udvikling og verifikation af analoge testmønstre fra ingeniørmåneder til ingeniørtimer. Det er den mest effektive måde at maksimere fejldækning og samtidig reducere testomkostningerne.

Tessent In-System Test leverer den indlejrede hardware og nødvendig software til at muliggøre anvendelse af deterministiske testmønstre af høj kvalitet, samtidig med at testtiden reduceres sammenlignet med traditionel logisk BIST.

Lever deterministisk scanningstest af højeste kvalitet med de laveste produktionstestomkostninger ved hjælp af patenteret on-chip komprimering for at reducere testdatamængden og reducere testtiden.

Automatiser generering og indsættelse af IEEE 1838-kompatibel hardware, og definer IEEE-testadgangsarkitekturen for 3D-stablede integrerede kredsløb.

Reducer DFT-udviklingstiden og produktionstestomkostningerne ved at afkoble DFT-krav på kerneniveau og chip-niveau med Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Aktivér omfattende automatisering og integration af test, reparation, fejlfinding og karakterisering af indlejrede minder med Tessent MemoryBist.

Aktivér overholdelse af ISO 26262 med den ideelle logiske indbyggede selvtestløsning til sikkerhedskritiske enheder såsom IC'er, der anvendes i bilindustrien og medicinske applikationer.

Kombiner automatisering og on-chip IP for at muliggøre IC-test og diagnose på ethvert tidspunkt under køretøjets funktionelle drift - et grundlæggende krav i ISO 26262-standarden.

Reducer DFT-implementeringsindsatsen med en optimal automatisering af Tessent Platformflowet til hierarkisk DFT.

Forbedre testkomprimeringsniveauer op til 4X, aktiver hierarkisk DFT, logisk BIST beredskab og scanningsindsættelse med Tessent ScanPro.

Strømlin en bred vifte af kritiske DFT-opgaver med denne nye software udviklet til IC-designteams.

Forenkle processen med at generere kompakte testsæt med høj dækning. Tessent FastScans evne til at blive anvendt på de fleste typer design gør den til den mest alsidige ATPG-løsning, der findes.

Tilvejebringe automatisering og integration til IEEE 1687 IJTAG-kompatibel test- og instrumenterings-IP fra forskellige kilder til et IC-design.

Automatiser tilføjelsen af IEEE 1149.1-standardgrænsescanningsunderstøttelse til IC'er af enhver størrelse eller kompleksitet, hvilket reducerer udviklingsindsatsen og forbedrer time-to-market.

Simulere defekter på transistorniveau for analoge digitale kredsløb, blandede signaler og ikke-scannende digitale kredsløb, og automatiserer dækningsvurderingen for at hjælpe med at opfylde kvalitetsstandarder som f.eks. ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro reducerer testomkostningerne drastisk ved at fremskynde indlæsning/aflæsning af IJTAG-mønster, afgørende for chipletter, 2,5/3DIC-design og anvendelig til andre testapplikationer via Tessent SSN. Det forbedrer IJTAG.

Anvend layout-bevidste og cellebevidste diagnoseteknologier til nøjagtigt at klassificere og identificere placeringen af defekter, der forårsager fejl under fremstillingstest.

Fremskynde testoptagelse, fejlfinding og siliciumkarakterisering af enheder, der indeholder Tessent ATPG-, EDT-, BIST- og/eller IJTAG-teststrukturer i et automatiseret interaktivt miljø.

Fjern støj fra diagnosedata for at bestemme de underliggende årsager, identificere systematiske udbyttebegrænsere og vælge de bedste enheder til fejlanalyse.

End-to-end RISC-V-fejlsøgnings- og sporingsløsning bestående af integreret IP og software designet til at levere omfattende, effektive fejlsøgnings- og sporingsfunktioner.

Omfattende funktionel overvågningsløsning til synlighed af kompleks SoC-adfærd, omfattende konfigurerbare IP'er, C++/Python API'er og et undersystemgenereringsværktøj, som kan fremskynde fejlfinding, validering og optimering af komplekse SoC'er

Tillad applikationssoftware, der kører på en SoC, at overvåge operationer effektivt. Tillad, at produkter successivt raffineres og optimeres baseret på data indsamlet i den virkelige brug - ikke kun i laboratoriet.

Sørg for den højeste produktionstestkvalitet med Tessent-løsninger. Maksimer antallet af detekterede fysiske defekter i din nul-defekt testløsning.

Reducer risikoen og overhold de krævede sikkerhedsstandarder med omfattende systemtest- og fejlklassificeringsløsninger, der sikrer, at dit produkt er fuldt kompatibelt med de sikkerhedskritiske applikationer, det er designet til.

Implementer en omfattende sikkerhedsløsning til dit IC-produkt, der adresserer godkendelse, kommunikation, beskyttelse og administration af enhedens livscyklus på tværs af test, funktionel drift og sikkerhed på systemniveau.

Diagnostiser og analyser fejl- og udbyttedata om individuelle kundeafkast eller volumenproduktionsdata. Få værdifuld design- og procesfeedback for at forbedre pålideligheden af fremtidige processer og designs.