Tessent Begivenheder

Lær, hvordan digitale scanningstest og ATPG kan anvendes på A/MS-kredsløb for at opnå høj fejldækning og minimere testertiden med størrelsesordener.

Oplev, hvordan integreret software, der kører på målsilicium, kan give et overlegent alternativ til at udvinde mere indsigt ud af on-chip-skærme og fejlfindingsstrukturer til analyse og optimering.

Dette webinar introducerer Tessent Streaming Scan Network (SSN), en DFT-løsning, der dramatisk forenkler og fremskynder DFT-planlægning og implementering gennem automatisering og plug-&-play-metoder for at levere hurtig tid til markedet.

Peter Shields, produktchef hos Tessent, giver en ekspertindsigt i RISC-V-sporingsstandarden og demonstrerer, hvordan implementering af standarden hjælper med at reducere risikoen ved at indføre RISC-V.

Gå ikke glip af dette webinar, hvor du introducerer og demonstrerer den nye Tessent Multi-die-software, der leverer omfattende automatisering til de meget komplekse DFT-opgaver, der er forbundet med de nyeste 2.5D og 3D IC-designs.

Lær hvordan du imødekommer de udfordringer, som sikkerhedskritiske ADAS-systemer introducerer til halvlederdesignere med hensyn til at opfylde funktionelle sikkerhedskrav defineret i ISO 26262-standarden.

Deltag i dette webinar for at lære, hvordan Tessent SiliconInsight løser udfordringerne ved at bringe silicium op for forbedret udbytte og tid til markedet.

Se dette on-demand webinar fra Siemens og PDF Solutions-teknologer for at lære om vores integrerede, omfattende end-to-end-løsning, der inkluderer analyse, scanningsdiagnose og maskinlæring.

Nye metoder og værktøjer til SoC DFT kan forenkle de problemer, der introduceres af teknologi, design og systemskalering. Lær, hvordan du reducerer risikoen og forbedrer time-to-market med en mere forudsigelig og pålidelig DFT-løsning.

Se dette webinar når som helst om effektiv håndtering af udfordringen med at sikre tilsluttede og autonome køretøjer.

Stil ind for at høre ledere på området diskutere tekniske udfordringer ved design af AI-chips. Gajinder Panesar, Siemens Fellow, fortæller om værdien af Embedded Analytics i at hjælpe AI- og ML-chips med at nå deres potentiale.

Optimer SoC-ydelsen og udfør forudsigelig vedligeholdelse i marken. En tilgang til dyb dataovervågning giver radikale forbedringer i tid til omsætning, produktkvalitet, pålidelighed og sikkerhed og rentabilitet.

Se dette on-demand webinar for at lære om reversibel scanningskædeteknologi, og hvordan den forbedrede diagnostisk opløsning med 4X i et industrielt casestudie.