Skip to main content
Denne side vises ved hjælp af automatiseret oversættelse. Vil du have den vist på engelsk i stedet?

Realiser kontinuerlig overvågning og optimering

Tessent Embedded Analytics-løsningen kan bruges til at producere sundheds- og driftsmålinger gennem hele en SoCs livscyklus. Integreret software baseret på Tessent Embedded SDK kan drive Tessent Embedded Analytics smart-skærme til at skabe et selvstændigt on-chip-overvågningssystem.

Elektronisk chip

Boost SoC debug/optimering ved hjælp af indlejret software

Find ud af, hvordan integreret software kan være et overlegent alternativ til at udvinde indsigt fra on-chip-skærme

Videoer

DFT til livstidsovervågning af elektroniske systemer

Oplev Tessent Silicon Lifecycle Solutions fra design til testbarhed (DFT) til in-life overvågning af pålidelige elektroniske systemer i denne Diamond-præsentation leveret af Ankur Gupta på ITC.

Videoer

Registrere, diagnosticere og fejlsøge systemer i livet

Find ud af, hvordan du forbedrer systemets observerbarhed i livet ved hjælp af spændingstelemetri i realtid og funktionel overvågning.

Hvidbog

Forbedring af systemets observerbarhed

En fælles løsning, der kombinerer fysisk on-die telemetri fra Movellus Aeonic Insight™ Droop Detector med funktionelle overvågningsløsninger fra Tessent Embedded Analytics. Ved at forbinde disse instrumenter via hardwarekrysudløsning tilbyder systemet et enkelt, tidsjusteret billede af, hvad der skete og hvorfor, der direkte korrelerer specifikke instruktionssekvenser eller busaktivitet med fysiske PDN-begivenheder, der forårsagede dem.

3D IC Blå
Hvidbog

Lang halelatens og serverfejlfinding

Læs mere om virkningen af lang halelatens og serverfejlfinding. Forstå detaljerede softwarestrategier til undgåelse af latens og fejlfinding af ydeevne.

En gruppe mennesker står foran en stor skærm, der viser en graf og tekst om trendteknologier.