Questa One Sim FX er en højtydende simulator, der bruges i Design-For-Test (DFT) til funktionel fejlklassificering for at forbedre defektdækningen for komplekse IC'er. Integration med markedsledende Tessent TestKompress tilbyder en kraftfuld løsning til at nærme sig nul defekter pr. million (DPPM).
Det automatiserede flow og understøttelse af Tessents format til avancerede fejlmodeller giver en unik løsning til forbedring af pålideligheden af højtydende og komplekse IC'er.
Adresser fejl, der kun kan aktiveres af funktionelle mønstre for at forbedre den samlede fejldækning.
Forøg fejldækningen ud over omfanget af strukturelle fejlmodeller.
Funktionel fejlklassificering hjælper med at verificere den korrekte drift og robusthed af blandede signalkredsløb såsom sikkerhedskredsløb og analoge blokke.
Mens ATPG-scanningsbaseret test er afgørende for at detektere strukturelle fejl på lavt niveau, hjælper funktionel fejlklassificering med at sikre, at enhedens overordnede funktionelle integritet opretholdes, og at testmønstre afspejler de forhold, som chippen vil opleve i den virkelige brug. Denne kombination af strukturel og funktionel fejlanalyse hjælper med at give en mere omfattende og robust teststrategi.
Siemens EDA tilbyder kundesupport i verdensklasse til Questa One Sim FX og alle vores produkter.
Verifikationsakademiet giver de færdigheder, der er nødvendige for at modne en organisations funktionelle verifikationsprocesfunktioner, hvilket giver en metodologisk bro mellem værdiforslag på højt niveau og detaljerne på lavt niveau.
For at hjælpe med forståelsen af avancerede funktionelle verifikationsteknologier og hvordan man anvender dem mest effektivt, besøg vores blog for indsigt og opdateringer om koncepter, værdier, standarder, metoder og eksempler.
