Designet til at imødekomme udfordringerne ved DFT-validering
Håndter effektivt netlist- eller registeroverførselsniveau (RTL) ved full-chip System-on-Chip (SoC) til designstørrelser op til 40B-porte.
Uanset om du kører en traditionel strukturel test, hukommelsesindbygget selvtest (MBIST) eller mere avanceret design til test (DFT), formater som parametrisk, I/O-karakterisering og endda funktionstest, kan Veloce DFT App håndtere alle de forskellige DFT-testtilstande, der køres på produktionsSoC'er
Kontakt vores salgsteam 1-800-547-3000

Veloce Design-for-Test (DFT) App giver en skift-venstre-tilgang til design til testmønstervalidering. Veloce DFT App er et emulationsoptimeret DFT-mønstervalideringsflow, der er hurtigere end traditionel softwaresimulering. DFT-appen er kompatibel med alle de forskellige typer testmønstre, der kører på ATE (automatiseret testudstyr). Veloce DFT App er fuldt kompatibel med Veloce Fault App for nøjagtigt at måle fejldækning eller give en funktionel fejlklassificeringsmåling. Det bruges sammen med Veloce Power App, effektprofilering og estimering af mønsteret for at sikre et meget robust produktionsprogram.
Håndter effektivt netlist- eller registeroverførselsniveau (RTL) ved full-chip System-on-Chip (SoC) til designstørrelser op til 40B-porte.
Veloce DFT overgår traditionel simulering med størrelsesordener. I nogle tilfælde så meget som 16K gange ydeevnen
Veloce DFT App understøtter filformat i hele branchen (Standard Test Interface Language) (STIL)
Antallet af testmønstre, der skal køres for fuldt ud at validere en SoC, koster tid og penge. Disse store mønstersæt skal være robuste og fungere under første silicium, så de ikke bringer produktionsleveringsplanen i fare. Med Veloce DFT App og emulationsbaseret acceleration op til 10.000 gange hurtigere end softwaresimulering kan der etableres en mere formel valideringsproces for at nå målrettede mål.

Med Veloce DFT udføres en strukturel analyse af designet for at udrydde dækningshuller i produktionsprogrammet. Når dette sæt fejl er fundet, og der oprettes en stimuli, automatiserer Veloce DFT og Fault Apps fuldstændigt processen med at køre testen og injicere fejlene på en iterativ måde. Den resulterende fejldækning kan fusioneres med ATPG-dækningsdatabase for endelig testprogramdækning.

Strukturelle DFT-testmetoder tilføjer ekstra ikke-funktionel testlogik til designet, hvor strømnet og layout af designet muligvis ikke optimeres til denne ekstra logik, hvilket fører til strøm-, temperatur- og hastighedshændelser ved test, der kan reducere udbyttet og påvirke projektindtægterne. Veloce DFT App sammen med Veloce Power App kan give et indblik i effekthændelser og estimater tidligt i design og planlægning.
