
Calibre EUV
fattende support, der adresserer de unikke udfordringer ved EUV med høj NA, såsom anamorf optik og maske 3D-modellering for at tage højde for skyggeeffekter.
Den umættelige efterspørgsel efter integrerede kredsløb (IC'er) fortsætter med at drive mindre kritiske dimensioner. Fotolitografiprocesser, herunder ekstrem ultraviolet (EUV), præsenterer stadig mere kompleksitet og datamængde. Vores beregningslitografiløsninger muliggør omkostningseffektiv teknologiaktivering.
Både de litografiske udfordringer og den beregningsmæssige kompleksitet forbundet med avancerede procesnoder skaber et behov for avancerede funktioner inden for computerlitografisoftware og hardware. Calibre-løsningen tilbyder klassens bedste nøjagtighed, hastighed og ejeromkostninger.

Tæt optisk nærhed og proceskorrektion for at muliggøre dyb submikronfremstilling.
Indsætter underopløsningsassistentfunktioner (SRAF'er) i et design.
Kraftig fuldchip-simulering og litografisk analyse.

GUI bruges til at starte en bred vifte af applikationer og til at se resultater.

Højskalerbar kalibreringsmotor til optiske modeller, modstandsmodeller og ætsemodeller.
Hurtig, invers pixelbaseret optisk nærhedskorrektion.
Let at bruge GUI til optimering af belysningskilde.