Tessent MemoryBist poskytuje kompletní řešení pro rychlé testování, diagnostiku, opravu, ladění a charakterizaci vložených pamětí. Díky flexibilní hierarchické architektuře lze vestavěný autotest a samoopravu integrovat do jednotlivých jader i na nejvyšší úrovni.
Tessent MemoryBist, přední vestavěný autotest paměti, obsahuje jedinečně komplexní automatizační tok, který poskytuje kontrolu pravidel návrhu, plánování testů, integraci a ověřování na úrovni RTL nebo brány.
Tessent MemoryBist ECC zvyšuje spolehlivost, zlepšuje kvalitu testů a chrání před vadami stárnutí. Přizpůsobitelná kritéria úspěšnosti/selhání umožňují optimální kombinaci redundance paměti a kódu opravujícího chyby.
Tessent MemoryBist NVM poskytuje flexibilní testování a opravy, snižuje náklady na výrobní testy a zvyšuje spolehlivost. Automatizované algoritmy specifické pro NVM umožňují specializované režimy přístupu a pracují s možností ECC. K dispozici. brzy 26
Pokročilý BAP poskytuje konfigurovatelné rozhraní pro optimalizaci testování v systému. Podporuje také protokol s nízkou latencí pro konfiguraci řadiče BIST paměti, provádění testů Go/NoGo a sledování stavu úspěšnosti/selhání.
Algoritmy pro testování paměti lze pevně zakódovat do řadiče Tessent MemoryBist a poté aplikovat na každou paměť pomocí řízení běhu. To vám umožní vybrat kratší testovací algoritmy při zrání výrobního procesu.
Možnost opravy Tessent MemoryBist eliminuje složitosti a náklady spojené s externími toky oprav. Testuje a trvale opravuje všechny vadné paměti v čipu s využitím prakticky žádných externích zdrojů.
Podívejte se, jak Etienne Racine, produktový manažer společnosti Tessent, hovoří o tom, jak může Tessent MemoryBist pomoci maximalizovat kvalitu testů, minimalizovat dobu testování, zlepšit výtěžnost a opravit paměti díky své flexibilní architektuře.
Zjistěte, jak vám software Tessent umožňuje sladit se s nově vznikajícími normami a předpisy a zároveň nabídnout kompletní sadu komplexních řešení, která splňují požadavky dnešního vývoje automobilových integrovaných obvodů.
Tento článek popisuje výhody použití architektury sdílené sběrnice pro testování a opravy pamětí v jádrech iPS a představuje automatizaci dostupnou v Tessent MemoryBist.
Tato případová studie popisuje, jak ON Semiconductor použil hierarchický tok Tessent MemoryBist ke zkrácení doby vložení paměti BIST o 6X.
