Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist je přední vestavěné řešení pro testování digitálních logických komponent integrovaných obvodů. Jedná se o ideální testovací řešení pro bezpečnostní kritická zařízení, jako jsou integrované obvody používané v automobilových a lékařských aplikacích.
Proč Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se efektivně integruje s Tessent MissionMode a Tessent TestKompress a vytváří kompletní systémové a výrobní testovací řešení pro bezpečnostní kritická zařízení.
Zlepšuje pokrytí testů
Technologie testovacího bodu Tessent VersaPoint, navržená pro hybridní aplikace TK/LBIST, zlepšuje počet vzorů ATPG a logickou testovatelnost BIST současně a zlepšuje pokrytí LBIST o 2% až 4%.
Splňuje dobu testování v systému
Pozorováním dat obvodu v každém cyklu směny, nejen při zachycení, technologie pozorování skenování (OST) významně snižuje počet vzorů potřebných k dosažení pokrytí testu BIST cílové logiky.
Zvyšuje efektivitu testů
Tessent Hybrid TK/LBIST efektivně kombinuje logickou architekturu Tessent TestKompress a LogicBist, aby zlepšila kvalitu testu a zároveň se vyhnula jakémukoli plošnému postižení, přičemž sklízí výhody jak komprese ATPG, tak logického BIST.
Infineon zkracuje dobu testování LBIST na funkční bezpečnost
V této prezentaci Daniel Tille z Infineon ukazuje použití LogicBist s technologií Observation Scan Technology, která prokázala, že drasticky zkracuje dobu testování logického vestavěného autotestu (LBIST) pro mikrokontroléry Infineon Automotive (MCU).
