Skip to main content
Тази страница се показва с помощта на автоматизиран превод. Вместо това вижте на английски?
Човек стои пред голям екран, показващ графика с червена линия.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

Tessent YieldInsight статистически анализира диагностичните данни, за да идентифицира и отдели систематични ограничители на добива, преди да се направи анализ на повреда. Tessent YieldInsight е специализиран за разбиране и идентифициране на загубата на добив от данните от сканирания тест и прави резултатите от обемната диагностика приложими.

Защо Tessent YieldInsight?

Използвайки специализирани техники за извличане на данни и статистически анализ, Tessent YieldInsight елиминира шума от диагностичните данни, за да определи основните причини, да идентифицира систематични ограничители на добива и да избере най-добрите устройства за анализ на повреди.

Идентифицирайте скрити ограничители на добива

Tessent YieldInsight идентифицира причината за систематичната загуба на добив и предоставя насоки през процеса на избор на матрица за анализ на повреди.

Премахнете шума от резултатите от диагнозата

Технологията за деконволюция на първопричините (RCD) премахва шума от резултатите от диагнозата и определя основните причини. Той избира и филтрира популации от неуспешни умрели, групирайки матрици, които се провалят по подобни причини.

Работи с Tessent Diagnosis

Анализира резултатите от диагнозата, осъзнати с оформлението и осъзнаването на клетките, от Tessent Diagnosis, за да идентифицира и отдели систематични ограничители на добива, преди да се направи какъвто и да е анализ на неуспехите, елиминирайки необходимостта от скъпа физическа локализация.

Уебинар

Нова технология за обратима верига за сканиране

Домакин на ASM International, този съвместен уебинар между Siemens EDA и Qualcomm прожектори:

  • Мотивация за използване на верижна диагностика в рампата на добив
  • Преглед на верижната диагностика, обратима верига
  • Технология и диагностика на обратима верига
  • Внедряване на обратими вериги
  • Резултати от силиций от тестовия чип
 Близък план на процесорен чип на платка със син фон.

Научете повече