Skip to main content
Тази страница се показва с помощта на автоматизиран превод. Вместо това вижте на английски?
голям чип на борда с меден и зелен фон
Tessent Advanced DFT

Tessent MemoryBIST

Tessent MemoryBist предоставя цялостно решение за тестване на скорост, диагностика, ремонт, отстраняване на грешки и характеризиране на вградените памет. Използвайки гъвкава йерархична архитектура, вграденият самотест и саморемонт могат да бъдат интегрирани както в отделни ядра, така и на най-високо ниво.

Защо Tessent MemoryBist?

Tessent MemoryBist, водещ в индустрията вграден самотест в паметта, включва уникално цялостен поток за автоматизация, който осигурява проверка на правилата за проектиране, планиране на тестове, интеграция и проверка на ниво RTL или порта.

ECC-базиран ремонт на паметта

Tessent MemoryBist ECC повишава надеждността, подобрява качеството на теста и предпазва от дефекти при стареене. Неговите персонализируеми критерии за пропускане/неуспех позволяват оптимална комбинация от резервиране на паметта и код за коригиране на грешки.

Приложение за нелетлива памет

Tessent MemoryBist NVM осигурява гъвкав тест и ремонт, намалява разходите за производствени тестове и повишава надеждността. Автоматизираните алгоритми, специфични за NVM, позволяват специализирани режими на достъп и работят с опцията ECC. Наличност. рано 26

Разширен BIST порт за достъп

Разширеният BAP осигурява конфигурируем интерфейс за оптимизиране на тестването в системата. Той също така поддържа протокол с ниска латентност за конфигуриране на BIST контролера на паметта, изпълнение на Go/NoGo тестове и наблюдение на състоянието на преминаване/неуспех.

Програмируемост на алгоритъма

Алгоритмите за тестване на паметта могат да бъдат твърдо кодирани в контролера Tessent MemoryBist, след което да бъдат приложени към всяка памет чрез управление на времето на изпълнение. Това ви позволява да избирате по-кратки тестови алгоритми, докато производственият процес узрява.

Захранващ се саморемонт на чипа

Опцията за ремонт на Tessent MemoryBist елиминира сложността и разходите, свързани с външните ремонтни потоци. Той тества и постоянно поправя всички дефектни памет в чип, като практически не използват външни ресурси.

Увеличете максимално качеството на теста с Tessent MemoryBist

Гледайте Etienne Racine, продуктов мениджър на Tessent, да говори за това как Tessent MemoryBist може да помогне за увеличаване на качеството на теста, минимизиране на времето за изпитване, подобряване на добива и поправка на паметта с гъвкавата си архитектура.

Попитайте експерт - мъж и жена, които имат консултация в офис.

Готови ли сте да научите повече за Tessent?

Стоим, за да отговорим на въпросите ви.

Научете повече