Защо Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist ефективно се интегрира с Tessent MissionMode и Tessent TestKompress, за да създаде цялостно вътрешно и производствено тестово решение за устройства с критично значение за безопасността.
Подобрява покритието на теста
Проектирана за хибридни TK/LBIST приложения, технологията за тестови точки Tessent VersaPoint подобрява броя на моделите на ATPG и логическата тестваемост на BIST едновременно, подобрявайки покритието на LBIST с 2% -4%.
Отговаря на времето за изпитване в системата
Чрез наблюдение на данните от веригата при всеки цикъл на смяна, не само при улавяне, технологията за наблюдение на сканиране (OST) значително намалява броя на моделите, необходими за достигане на целевото логическо покритие на теста BIST.
Повишава ефективността на теста
Tessent Hybrid TK/LBIST ефективно комбинира логическата архитектура на Tessent TestKompress и LogicBist за подобряване на качеството на теста, като същевременно избягва всякакви наказания за област, като се възползват от предимствата както на ATPG компресията, така и от логическия BIST.
Infineon намалява времето за изпитване на LBIST до функционална безопасност
В тази презентация Даниел Тиле от Infineon показва използването на LogicBist с технология за наблюдение на сканиране, която е доказано, че драстично намалява времето за тестване на вграденото в логически самотест (LBIST) за микроконтролерите Infineon Automotive (MCU).
