Skip to main content
Тази страница се показва с помощта на автоматизиран превод. Вместо това вижте на английски?

Защо да използвате Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test предоставя вградения хардуер и необходимия софтуер, за да позволи прилагането на висококачествени детерминистични тестови модели, като същевременно намалява времето за изпитване в сравнение с традиционната логика BIST.

Активира адаптивен тест

Детерминистичният тест в системата ви позволява да променяте моделите на тестване, когато се появят нови дефекти и модели на грешки или при промяна на нуждите от съдържанието на теста.

Работи с Tessent SSN

Вътрешният системен тестов контролер извлича данни от интерфейси на шината, задвижвайки вътрешната мрежа на шината Streaming Scan Network, за да приложи пакети от данни за сканиране към ядрата за тестване, намалява времето за изпитване и подобрява профила на мощност по време на теста.

Повторно използва тестови модели

Използва отново съществуващата инфраструктура за изпитване на чипа, за да се насочи към латентни, периодични, случайни или свързани с възрастта дефекти по време на живота на продукта, като дава възможност за повторна употреба на модели, базирани на IJTAG и SSN, за системни приложения.

Отговаря на безшумни грешки в данните

Предоставя напълно автоматизирани хардуерни и софтуерни възможности, необходими за отговор на стареене и фактори на околната среда, които се проявяват като безшумни грешки/корупция в данните. Съдържанието на теста може да се променя с развитието на изискванията за теста.

Тествайте всичко, навсякъде, по всяко време

Идентифицирайте дефектите през целия експлоатационен живот на устройството. От вафли до полеви, осигурете качество с нулев дефект и непрекъсната надеждност. Tessent In-System Test предлага цялостно, мащабируемо и гъвкаво решение за цялостно качество на жизнения цикъл с базирана на HSIO тестова доставка и усъвършенствани модели на грешки.

Изображение на силиконова вафла с множество нюанси на синьото, отразяващи се от нея.

Позволяване на висококачествени детерминистични тестови модели

Стартиран на ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) допълва Tessent Streaming Scan Network (SSN) и подобрява способността му да се използва в системна среда на място, като по този начин разширява усъвършенстваната технология, предоставена от Tessent SSN. Дизайнерите могат да прилагат вградени детерминистични тестови модели (EDT), генерирани с помощта на софтуера Tessent SSN чрез SSN шината директно с помощта на вътрешния системен тестов контролер.

Използване на висококачествени детерминистични тестови модели

Tessent In-System Test интегрира вътрешен детерминистичен тест (IS-EDT) с мрежата за сканиране на стрийминг Tessent, за да позволи на потребителите да изпълняват детерминистични модели в системата. Въпреки че търсенето на модели IS-EDT е от решаващо значение в автомобилната индустрия, тази технология също е от полза за центрове за данни и мрежови дизайни. Тази статия очертава как Tessent In-System Test отговаря на нуждите от тестване в системата и на полето.

светещ микрочип
център за данни

Гледайте уебинара на IST

Гледайте уебинара при поискване Подобряване на качеството на вашия вътрешен системен тест с детерминистичен тест в системата.