Необходимо е непрекъснато тестване и мониторинг на устройствата, за да се гарантира оптимална производителност, надеждност и безопасност по време на тяхната работа. Tessent In-System Test позволява прилагането на висококачествени детерминистични тестови модели за тестване в системата/на място по време на жизнения цикъл на вашия чип.
Tessent In-System Test предоставя вградения хардуер и необходимия софтуер, за да позволи прилагането на висококачествени детерминистични тестови модели, като същевременно намалява времето за изпитване в сравнение с традиционната логика BIST.
Детерминистичният тест в системата ви позволява да променяте моделите на тестване, когато се появят нови дефекти и модели на грешки или при промяна на нуждите от съдържанието на теста.
Вътрешният системен тестов контролер извлича данни от интерфейси на шината, задвижвайки вътрешната мрежа на шината Streaming Scan Network, за да приложи пакети от данни за сканиране към ядрата за тестване, намалява времето за изпитване и подобрява профила на мощност по време на теста.
Използва отново съществуващата инфраструктура за изпитване на чипа, за да се насочи към латентни, периодични, случайни или свързани с възрастта дефекти по време на живота на продукта, като дава възможност за повторна употреба на модели, базирани на IJTAG и SSN, за системни приложения.
Предоставя напълно автоматизирани хардуерни и софтуерни възможности, необходими за отговор на стареене и фактори на околната среда, които се проявяват като безшумни грешки/корупция в данните. Съдържанието на теста може да се променя с развитието на изискванията за теста.
Стартиран на ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) допълва Tessent Streaming Scan Network (SSN) и подобрява способността му да се използва в системна среда на място, като по този начин разширява усъвършенстваната технология, предоставена от Tessent SSN. Дизайнерите могат да прилагат вградени детерминистични тестови модели (EDT), генерирани с помощта на софтуера Tessent SSN чрез SSN шината директно с помощта на вътрешния системен тестов контролер.
Tessent In-System Test интегрира вътрешен детерминистичен тест (IS-EDT) с мрежата за сканиране на стрийминг Tessent, за да позволи на потребителите да изпълняват детерминистични модели в системата. Въпреки че търсенето на модели IS-EDT е от решаващо значение в автомобилната индустрия, тази технология също е от полза за центрове за данни и мрежови дизайни. Тази статия очертава как Tessent In-System Test отговаря на нуждите от тестване в системата и на полето.
Научете как използването на софтуера Tessent ви позволява да се съобразите с нововъзникващите стандарти и разпоредби, като същевременно предлага пълен набор от решения от край до край, за да отговори на изискванията на съвременните разработки на автомобилни IC.
Открийте повече за нарастващата роля на иновациите в дизайна на интегрални схеми (IC) в цифровата трансформация в тази бяла книга.
