Тесентни продукти

Tessent AnalogTest намалява разработването и проверката на аналогови тестови модели от инженерни месеци до инженерни часове. Това е най-ефективният начин за увеличаване на покритието на дефектите, като същевременно намалите разходите за тестване.

Tessent In-System Test предоставя вградения хардуер и необходимия софтуер, за да позволи прилагането на висококачествени детерминистични тестови модели, като същевременно намалява времето за изпитване в сравнение с традиционната логика BIST.

Предоставяйте най-висококачествения детерминистичен тест за сканиране с най-ниските производствени тестови разходи, като използвате патентована компресия на чипа, за да намалите обема на тестовите данни и да намалите времето за изпитване.

Автоматизирайте генерирането и вмъкването на хардуер, съвместим с IEEE 1838, и дефинирайте архитектурата на IEEE тестовия достъп за 3D подредени интегрални схеми.

Намалете времето за разработка на DFT и разходите за производствени тестове, като отделите изискванията за DFT на ниво ядро и ниво чип с Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Активирайте цялостна автоматизация и интегриране на тестване, ремонт, отстраняване на грешки и характеризиране на вградените памет с Tessent MemoryBist.

Активирайте съответствие с ISO 26262 с идеалното логическо вградено решение за самотестване за устройства с критично значение за безопасността, като ИС, използвани в автомобилните и медицинските приложения.

Комбинирайте автоматизация и IP на чипа, за да позволите тестване и диагностика на IC във всеки момент от функционалната работа на автомобила — основно изискване на стандарта ISO 26262.

Намалете усилията за внедряване на DFT с оптимална автоматизация на потока на Tessent Platform за йерархичен DFT.

Подобрете нивата на компресия на тестовете до 4X, активирайте йерархичен DFT, логическа готовност за BIST и вмъкване на сканиране с Tessent ScanPro.

Рационализирайте широк спектър от критични DFT задачи с този нов софтуер, разработен за екипи за проектиране на IC.

Опростете процеса на генериране на компактни тестови комплекти с високо покритие. Способността на Tessent FastScan да се прилага към повечето всякакъв тип дизайн го прави най-универсалното налично ATPG решение.

Осигурете автоматизация и интеграция за IEEE 1687 IJTAG съвместим с тест и инструментариум IP от различни източници в IC дизайн.

Автоматизирайте добавянето на стандартна поддръжка за сканиране на границите на IEEE 1149.1 към ИС от всякакъв размер или сложност, намалявайки усилията за разработка и подобрявайки времето за пускане на пазара.

Симулирайте дефекти на ниво транзистор за аналогови, смесени сигнали и несканирани цифрови схеми, като автоматизирате оценката на покритието, за да помогнете за спазването на стандартите за качество като ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro драстично намалява разходите за тестване чрез ускоряване на натоварването/разтоварването на модела на IJTAG, което е от решаващо значение за чиплети, 2.5/3DIC дизайни и приложимо за други тестови приложения чрез Tessent SSN. Подобрява IJTAG.

Прилагайте технологии за диагностика, съобразени с оформлението и клетъчната диагностика, за да класифицирате точно и идентифицирате местоположението на дефекти, причиняващи повреди по време на производствените тестове.

Ускоряване на тестовото въвеждане, отстраняване на грешки и характеризиране на силиций на устройства, съдържащи тестови структури Tessent ATPG, EDT, BIST и/или IJTAG в рамките на автоматизирана интерактивна среда.

Елиминирайте шума от диагностичните данни, за да определите основните причини, идентифицирайте систематичните ограничители на добива и изберете най-добрите устройства за анализ на повреди.

Решение за отстраняване на грешки и проследяване от край до край RISC-V, състоящо се от вграден IP и софтуер, предназначен да осигури цялостни, ефективни възможности за отстраняване на грешки и проследяване.

Цялостно функционално решение за мониторинг за видимост на сложното поведение на SoC, включващо конфигурируеми IP адреси, C++/Python APIs и инструмент за генериране на подсистема, който може да ускори отстраняването на грешки, валидирането и оптимизирането на сложни SoC

Позволете на приложния софтуер, работещ на SoC, да следи ефективно операциите. Позволете на продуктите да бъдат последователно усъвършенствани и оптимизирани въз основа на данни, събрани при реална употреба - не само в лабораторията.

Осигурете най-високото качество на производствения тест с решенията на Tessent. Увеличете максимално броя на откритите физически дефекти във вашето решение за тест с нулев дефект.

Намалете риска и отговаряйте на изискваните стандарти за безопасност с всеобхватни решения за тестване и оценяване на неизправности, гарантирайки, че вашият продукт е напълно съвместим с критичните за безопасността приложения, за които е проектиран.

Внедрете цялостно решение за сигурност за вашия IC продукт, адресирайки удостоверяването, комуникацията, защитата и управлението на жизнения цикъл на устройството в рамките на тестване, функционална работа и сигурност на ниво система.

Диагностицирайте и анализирайте данните за неуспех и доходност на индивидуалните възвръщаемости на клиентите или данни за обема на производството. Получете ценна обратна връзка с дизайна и процеса, за да подобрите надеждността на бъдещите процеси и дизайни.