Открийте решенията Tessent Silicon Lifecycle Solutions от проектиране за тестваемост (DFT) до мониторинг през целия живот за надеждни електронни системи в тази презентация на Diamond, представена от Ankur Gupta в ITC.
Открийте как да подобрите наблюдателността на системата през живота, като използвате телеметрия на напрежението в реално време и функционален мониторинг.
Съвместно решение, което съчетава физическа телеметрия при матриране от детектора за изпускане Movellus Aeonic Insight™ с функционални решения за мониторинг от Tessent Embedded Analytics. Чрез свързване на тези инструменти чрез хардуерно кръстосано задействане, системата предлага единен, подравнен във времето изглед на случилото се и защо, директно свързвайки специфични последователности от инструкции или активността на шината с физически PDN събития, които са ги причинили.
Прочетете повече за въздействието на дългата латентност на опашката и отстраняването на грешки в сървъра. Разберете подробни софтуерни стратегии за избягване на латентност и отстраняване на грешки в производителността.
