Решението Tessent Embedded Analytics може да се използва за създаване на показатели за здравето и експлоатацията през целия жизнен цикъл на SoC. Вграденият софтуер, базиран на Tessent Embedded SDK, може да задвижва интелигентните монитори Tessent Embedded Analytics, за да създаде самостоятелна система за мониторинг на чипа.
Открийте решенията Tessent Silicon Lifecycle Solutions от проектиране за тестваемост (DFT) до мониторинг през целия живот за надеждни електронни системи в тази презентация на Diamond, представена от Ankur Gupta в ITC.
Открийте как да подобрите наблюдателността на системата през живота, като използвате телеметрия на напрежението в реално време и функционален мониторинг.
Съвместно решение, което съчетава физическа телеметрия при матриране от детектора за изпускане Movellus Aeonic Insight™ с функционални решения за мониторинг от Tessent Embedded Analytics. Чрез свързване на тези инструменти чрез хардуерно кръстосано задействане, системата предлага единен, подравнен във времето изглед на случилото се и защо, директно свързвайки специфични последователности от инструкции или активността на шината с физически PDN събития, които са ги причинили.
Прочетете повече за въздействието на дългата латентност на опашката и отстраняването на грешки в сървъра. Разберете подробни софтуерни стратегии за избягване на латентност и отстраняване на грешки в производителността.
